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变频空调片状电阻银转化值异口同声的怡悦稀奇与酷热

必威体育苹果app下载 时间:2019年11月07日 15:10

和二次护卫包覆层之间存正在罅隙判辨研商结果:片状电阻端电极,到片状电阻内电极氛围中的水汽进入,银层的银孕育迁徙导致内电极涂覆,阻值变幼使电阻的,短途状况甚显露至。个永恒慢慢渐进失效经过可见电阻银迁徙失效是一,支配可能管理非经过质料。前防范只消提,境与就业牢靠性升高器件操纵环,此障碍产生就可能避免。定有用管理电阻银迁徙失效经洪量的计划判辨验证确,博得明显结果通过实践操纵。造周围同样值得鉴戒该计划正在其他电子造。

行整个护卫对电途板进,涂覆三防胶酿成有用护卫膜正在PCB板器件本体匀称,信越三防胶机能参数如图12)我司行使日本信越三防胶(日本,尘等其它等侵蚀物质侵入可能有用拒绝水汽、灰,移题方针产生从而避免银迁。

献原料及试验注脚凭据闭连的本领文,以有用地抑低银迁徙表象的产生采用高含钯量的银钯电极浆是可,抑低银迁徙的本事就会越好并且含钯量越高的电极浆其,浆是纯银或是含钯量幼于1%的目前行业内广博行使的面电极,升片式电阻抑低银迁徙的本事提拔面电极浆的含钯量可能提。

容量相对集结B、正在打算,中的构造中贴片高度集,1+2+3+4同时采用计划,止银迁徙产生可能有用阻,本钱会增多相对应物料;

片状电阻表观如图2所示行使高倍放大镜查看失效,发明很是表观未,表面无毁伤电阻本体,搭接平常两侧电极,挂锡表象周边无,电阻阻值偏幼用电阻测试仪,相差范畴较大较平常品阻值。

正在表机变频支配器主板征求失效数据均失效,正在室表表机装,境较阴毒行使环,区别较大温湿度,、湿度较高重要为温度,它侵蚀性物质较多且水汽、尘埃等其。机运转境况影响因为受表机整,加快银迁徙失效侵蚀物质侵入会。

三层电极构造片状电阻有,构造如图1所示片状电阻的产物,是银电极面电极,是镍镀层中心电极,是锡镀层表部电极。金属银导电场面电极原料是,吵嘴金属不导电体二次护卫包裹层,很薄或未酿成导电层交壤线区域电镀层,隙或是罅隙从而爆发空,二次护卫层范围不齐整极度是当丝网印刷漏印,层之间移交处是最弱点基体二次护卫与电极镀,如图1所示侵入经过,与电极之间的交壤处渗入到面电极表界水汽、粉尘通过二次护卫层,的感化下正在电场,位向低电位迁徙银离子从高电,或枝蔓状扩展并酿成絮状,界上酿成玄色氧化银正在凹凸电位相连的边。可能分明的看到银迁徙表象通过闻名的水滴尝试统统。非常简便水滴尝试,的到体检滴上水滴正在相邻很近的含银,以侦察到银离子的迁徙表象同时加上直流梯度电压就可。移天生化合物Ag2O片状电阻面电极银迁,电率高使面电极之间本体邻接因为Ag2O(低阻率)导,阻值变幼从而显露。

薄膜电阻器供给不渗入硫的管理计划[J][4] Brian Mccabe。 ,电子今日,5作家简介:王少辉2009-11-1,6年生198,男,工程师帮理,造器售后失效判辨重要研商对象:控。

板通信电途与开闭电源母线电压反应电途片状电阻值幼失效重要集结正在变频表机主,年光较长且行使,的起因是“Ag 迁徙”表象经判辨产操行使后阻值变幼,体被Ag 金属导通形成阻值变幼因为“Ag 迁徙”后部份电阻。)表象是指正在存正在直流电压梯度的湿润境况中银迁徙(Silver Migration,解酿成氢离子和氢氧根离子水分子渗透含银导体表面电。气邻接的导体间酿成旁途银离子的迁徙会形成无电,降以致短途形成绝缘下。

计划1+2+3C、同时采用,用境况受使,应力呆板,抹情景影响三防胶涂,能有用统统杜绝正在长年光行使不,银离子的孕育可能有用抑低;

音信及对器件单体及操纵电途归纳判辨通过产物实践操纵经过中的题目反应,机理、失效要素、器件操纵境况本文从片状电阻银迁徙的失效,方面实行判辨操纵电途等多。产经过中无失效片状电阻正在生,显露洪量银迁徙失效正在售后行使2年后,置集结且位,高的直流梯度电压对应电途存正在较。、高温烧结、能谱判辨等要领研商通过对电阻失效采用高配放大镜,表象、失效机理确定电阻银迁徙。

操纵于变频空调表机主板上失效片状电阻值幼障碍均,及电途集结失效身分,没有显露过电阻值幼失效统计内机主板数据统计。电途判辨对操纵,流电压均为直,V~100 V之间梯度降低电阻2端直流电压从56 ,阻分压较高对应电途电。打算构造及行使器件差别比照发明对统一电途差别机型实践操纵电途,反应电阻封装均相似开闭电源母线电压;存正在两种尺寸通信电途电阻,寸均有失效且2种尺,其它无差别尺寸差别表,计均能满意需求电阻功率选型设。阻银迁徙失效概率电阻尺寸差别对电,失效的概率相对越低尺寸越大电阻银迁徙,续年光也越长银迁徙失效持,也就越安静电阻阻值。

所示大的分立器件较多失效片状电阻方圆如9,途靠拢板边且通信电,器盒后存正在呆板应力临盆经过或安装电,电极镀层间罅隙变大以致二次护卫层与表,极镀层之间的交壤处渗入到面电极加快表界水汽通过二次护卫层与电,g被氧化电离使面电极的A,物Ag2O天生了化合,”或“短途”的失效表象正在阻值上浮现出“值幼。更容易进入到片状电阻面电极受呆板应力影响导致表界水汽。

对母线电压实行分压三个电阻均呈梯度,均有失效三个身分,均为1206尺寸封装查看差别机型片状电阻,无差别封装。图如图6所示操纵电途道理,起分压感化正在该电途中,反应口直流母线电压巨细用于检测输入到开闭芯片,节与护卫感化起开闭电压调。

评估告诉中实行了如实披露对一经发明的题目正在本资产,委托人及其他而且已提请相

电阻器开途失效判辨 [J][2] 雷云燕。 厚膜片状,件与原料电子元,-06-220008

效机理及操纵牢靠性研商 [J][3] 崔斌。 片状电阻硫化失,品宇宙电子产,-07-020174

单面板A、正在,计容量大情景下以及整机电途设,用计划5可能使,管理计划是最有用;

以及验证判辨经实践操纵,抑低片状电阻银迁徙障碍产生采用以下5个计划均均可能,下图11所示详细改进如,打算构造行使片状电阻而采纳的办法改进1、2、3、4均是针对电途,有用的管理计划计划A和B是做,效抑低银离子孕育计划C和D可能有,要素影响受失效,全杜毫不行完,如下搭配:

一个电化学经过银的表面迁徙是。加电场下与绝缘体接触当银正在高湿前提和表,置并从头重积到另一个地方它以离子的大局摆脱初始位。包含!电解、离子迁徙和电重积电解迁徙可能被看作三个步伐。造可能诠释如下银离子的迁徙机!

到阴极开释出氢气b。氢离子迁徙,重淀!Ag++ OH- →AgOH (3氢氧根离子与银离子正在阳极相遇并酿成胶体)

~4年年光后报E6通信障碍表机支配器主板正在售后行使2,析为阻值无固定点通过对失效品分,值差别较大与标称阻。失效片状电阻判辨通过对售后返回,究了片状电阻银迁徙表象和失效机理采用高配放大镜、能谱判辨等要领研。结果显示判辨研商,极含有银金属片状电阻端电,导通形成阻值变幼银金属被侵蚀迁徙。、器件自己、器件实践操纵境况、电本文从片状电阻银迁徙的失效机理途

效机理判辨可能看到通过对片状电阻失,受到表界影响要素良多片状电阻银迁徙失效,几种影响要素发明有以下,影响要素如图8所示片状电阻银迁徙值幼,别影响要素采纳有用管控办法凭据失效影响要素散布图识。阻面电极含银主因是片状电,素尚有:表面无涂覆物导致银迁徙爆发的因;存正在直流电压相附近导体间,隔愈近导体间,愈容易爆发电压愈高;年光行使;高温高湿操纵境况,粉尘较多水汽与;械应力等存正在机。

行牢靠性评估对整机产物进,、以及临盆结果容许的情景下正在整机产物的打算容量体积,途身分改用不含银原料的引脚式金属膜电阻将对应电途身分容易显露银迁徙题方针电,迁徙障碍产生可有用杜绝银。

用强电零前线通信另表机通信电途采,必威体育苹果app下载图如图7所示操纵电途道理,0 V交换电压通信电源为22,极管取得56 V的直流电源通过半波整流、滤波、稳压二。成低电平流到通信电途中正在高频脉冲的感化下形,变的低频脉冲触发后直流改。阻正在电途中起分压感化470 KΩ片状电,低重传输到光耦输出端将零前线 V直流电压。

宇宙》2019年第5期第76页本文出处于科技期刊《电子产物,论文时援用接待您写,明出并注处

采纳高钯电极浆电阻底层电极,浆金,量幼于5%凡是钯含,10%也有。安静性很好钯和金的,界境况影响不会受表,离子迁徙失效爆发可能有用低重银。银迁徙的抑低机理如图13浮现了。a)注脚图13(,子更容易反映裸银比钯原,容易熔化Ag-Pd合金正在湿润和电场的感化下更。b)注脚图13(,蔽层反对合金的熔化钯原子酿成了一个屏。-Pd厚膜正在氧化铝基板上的样子图14浮现了差别钯含量的Ag。于银基浆料中钯的含量银迁徙很大水平上取决。XC4所看到的正如图13中,Pd中的银没有脱合金熔化的产生当钯的含量超 过30%时Ag-。

品实行能谱判辨对阻值偏幼失效,次护卫后的不良品的血色圈处)检测点身分为上图刮去玄色二,金属物不良品重要成份是Ag(银)元素检测结果注脚不良品的电阻体表面笼盖的。

售后实践就业中障碍较杰出变频空调行使片状电阻正在,性较差牢靠,中障碍之一值幼便是其,之内失效分表杰出均是行使2-4年,行使年光越久通过数据统计,效数越多障碍失,空调售后障碍率急急影响变频,值幼失效起因详细片状电阻,需实行攻下管理以及失效机理急。

导体上的机理和影响[J][1] 银迁徙--正在厚膜,文库百度,-10-120179

用计划1+4D、同时采,银离子的孕育可能有用抑低,案相似与C方,能有用统统杜绝正在长年光行使不。

次整改通过此,途、就业境况等实行精细有用测试评估器件引入斥地时需对器件单体及操纵电,行使身分实行归纳评估要与实践行使境况及,障碍案例纳入打算轨范将片状电阻银迁徙值幼,操纵失结果低重售后。

均检测出含Ag(银)元素因素结果决断导致电阻失效物质中,银迁徙失效导致电阻值幼是由于,试数据如图4和图5失效品能谱图及测。

电机能安静、牢靠性上等特质片状电阻以体积幼、重量轻、,常用的贴装元件之逐一经成为电子电途最,产物的必定品是大无数电子,板、手机及百般家用电器产物中被广大操纵于手提电脑、主机。银迁徙值幼失效片状电阻显露,反应口检测电压信号过大导致开闭芯片、以及光耦,效用失效主板电途,整机无法就业最终导致空调。已正在售后行使一段年光对应失效支配器主板,间较长行使时,值改观无秩序失效电阻阻,效品的深远判辨研商通过对售后洪量失,效起因及失效机理迅速研商电阻失,效的办法采纳有,厉重的事理拥有分表。

三层电极构造片状电阻有,是银电极面电极,是镍镀层中心电极,是锡镀层表部电极。响片状电阻内部构造图如图10所示4。3 片状电阻自己电极原料影,为银原料面电极,迁徙的主因是导致银。金属银导电场面电极原料是,能较好导电性,贵金属中正在全体,本质最灵巧银的化学,化学反映极易爆发,子迁徙表象形成银离。

正在编带包装时片状电阻产物,测试仪分辨实行阻值测试原临盆厂家均经两台阻值,可能包装到卷盘上阻值及格的产物才,临盆操纵都有测试正在精度方面实践,可控测试。据如表1所示统计失效数,称阻值范畴很大电阻阻值与标,段年光才失效正在售后行使一,选直接将阻值不良品流出的可以性可清除临盆厂家出厂时阻值经筛。

的打算尺寸如图15所示通过耽误二次护卫包覆层,笼盖上二次护卫同时让底层电极,必然尺寸并抵达,镀时正在电,易地笼盖上二次护卫层Ni层和Sn层均能容。包覆层边际直接显示于氛围境况中云云避免了相对微弱的二次护卫,的密封机能升高了产物,汽进入到电阻面电极能有用抑低表界水。

把残留正在电阻上的导电物如锡、水气等去除电阻值幼不良品过600℃烧结炉试验可能,是200℃固化的因为二次护卫浆,温度为850℃电阻体的烧结,电阻体的条件下去除玄色二次护卫层过600℃烧结炉后可能正在不毁伤,察到电阻体的容貌从而可能直接观,阻表观如图3所示过炉后查看片状电,着一层疑似金属物(红圈处)可能看到正在电阻体表面笼盖,的阻值平常丈量电阻,电阻体是平常的注脚不良品的。

用打算中电途应,封装尺寸增大对详细电阻,之间的隔断增大端电极,电极的爬电隔断从而增大电阻两,的孕育速率抑低银离子。尺寸越大电阻本体,效连续年光越长电阻抗银迁徙失。

体电途表观实行判辨对售后失效样品具,核征求障碍品核实售后复,身分如图9所示银迁徙失效电阻,频变压器靠拢高,耦光,板边等以及,立器件较多周边大的分,无涂覆硅胶较多导致电阻广博,没有涂覆硅胶实践大无数,蚀物质易侵入因为表界腐,银迁徙失效从而加快。硅胶精良的电阻涂覆,值幼障碍未发明有。

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